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中国科学院研究成果：光学元件垂直度测量技术的创新发展

中国科学院取得了光学元件垂直度测量技术的创新成果，该技术的发展将有助于提升光学元件的精准度和性能，对光学行业具有重要意义。

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中国科学院西安光学精密机械研究所最新研究成果，深入分析了垂直度误差并提出改进方案，为光学精密加工领域带来重大突破。

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